2005-02-22 4
LD 242
Gruppierung der Strahlstärke Ie in Achsrichtung
gemessen bei einem Raumwinkel Ω = 0.01 sr
Grouping of Radiant Intensity Ie in Axial Direction
measured at a solid angle of Ω = 0.01 sr
Bezeichnung
Parameter Symbol Werte
Values Einheit
Unit
-2 -3 78001)
Strahlstärke
Radiant intensity
IF = 100 mA, tp = 20 ms
IF = 1 A, tp = 100 µs
Ie
Ie typ.
4 … 8
50
> 6.3
75
1 … 3.2
–
mW/sr
mW/sr
1) Die Messung der Strahlstärke und des Halbwinkels erfolgt mit einer Lochblende vor dem Bauteil (Durchmesser der
Lochblende: 1,1 mm; Abstand Lochblende zu Gehäuserückseite: 4,0 mm). Dadurch wird sichergestellt, dass bei
der Stra hlstärk emess ung n ur d iejenige Strah lung in Ac hsricht ung be wert et wird, die d irekt von d er Ch ipoberf läche
austritt. Von der Bodenplatte reflektierte Strahlung (vagabundierende Strahlung) wird dagegen nicht bewertet. Diese
Reflexio nen s ind bes onders bei Abb ildungen der Ch ipoberf läch e über Zus atzopt iken stören d ( z.B. L ichtsch ranken
großer Reichweite). In der Anwendung werden im allgemeinen diese Reflexionen ebenfalls durch Blenden
unterdr ück t. Du r ch die se s d er A nwen dun g en tsp r ec hende Messver fa hre n erg i bt si ch f ür d i e An wend er e i ne b ess er
verwertbare Größe. Diese Lochblendenmessung ist gekennzeichnet durch den Eintrag „E 7800“, der an die
Typenbezeichnung angehängt ist.
1) An aperture is used in front of the component for measurement of the radiant intensity and the half angle (diameter
of the ape rture: 1.1 mm; distanc e of ap erture to cas e bac k sid e: 4.0 mm). This e nsure s that solely t he radi ation in
axial dire c tio n emitting directly from t he c hip surfac e w ill be ev aluated du ring measur ement of the radiant intensity.
Radiation reflected by the bottom plate (stray radiation) will not be evaluated. These reflections impair the projection
of the chip surface by additional optics (e.g. long-range light reflection switches). In respect of the application of the
component, these reflections are generally suppressed by apertures as well. This measuring procedure
corresponding with the application provides more useful values. This aperture measurement is denoted by “E 7800”
added to the type designation.