2009-05-14 4
SFH 4850 E7800
Strahlstärke Ie in Achsrichtung1)
gemessen bei einem Raumwinkel Ω = 0.01 sr
Radiant Intensity Ie in Axial Direction
at a solid angle of Ω = 0.01 sr
Bezeichnung
Parameter Symbol Werte
Values Einheit
Unit
SFH 4850 E7800 -P SFH 4850 E7800 -Q
Strahlstärke
Radiant intensity
IF = 100 mA, tp = 20 ms
Ie min
Ie max
4
86.3
12.5 mW/sr
mW/sr
Strahlstärke
Radiant intensity
IF = 1 A, tp = 100 μs
Ie typ 45 55 mW/sr
1) Nur eine Gruppe in einer Verpackungseinheit (Streu ung kleiner 2:1)
Die Messung der Strahlstärke und des Halbwinkels erfolgt mit einer Lochblende vor dem Bauteil (Durchmesser
der Lochblende: 1.1 mm; Abstand Lochblende zu Gehäuserückseite: 4,0 mm). Dadurch wird sichergestellt, dass
bei der Strahlstärkemessung nur diejenige Strahlung in Achsrichtung bewertet wird, die direkt von der
Chipoberfläche austritt. Von der Bodenplatte reflektierte Strahlung (vagabundierende Strahlung) wird dagegen
nicht bewertet. Diese Reflexionen sind besonders bei Abbildungen der Chipoberfläche über Zusatzoptiken
störend (z.B. Lichtschranken großer Reichweite). In der Anwendung werden im allgemeinen diese Reflexionen
ebenfalls durch Blenden unterdrückt. Durc h dieses der Anwe ndu ng e ntspreche nde Messve rfah re n erg ibt sich fü r
die Anwender ei ne besser verwertbare Größ e. Diese Lochblenden messung ist gekennze ichnet durch den Eintrag
„E 7800“, der an die Typenbezeichnung angehängt ist.
1) Only one group in one pack ing unit, (variation lower 2:1)
An aperture is used in front of the component for measur ement of the radiant intensity and the half angle (diameter
of the aperture: 1.1 mm; distance of aperture to case back side: 4.0 mm). This ensures that solely the radiation
in axial direction emitting directly from the chip surface will be evaluated during measurement of the radiant
intensity. Radiation reflected by the bo ttom plate (stray radiation) will not be evaluated. These reflections impair
the projection of the chip surface by additional optics (e.g. long-range light reflection switches). In respect of the
application of the component, these reflections are generally suppressed by apertures as well. This measuring
procedure corresponding with the application provides more useful values. This aperture measurement is denoted
by ’E 7800’ added to the type design ation.